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資料下載 時代 TT240數字式涂層測厚儀使用說明書    時代 TT240 數字式覆層測厚儀 使用說明書 時代集團公司 北京時代之峰科技有限公司 概述 第 1 頁 共 17 頁 1 概述 .................................................................................................................................... 2 1.1 測量原理 .............................................................................................................. 2 1.2 標準配置及可選件............................................................................................... 3 1.2.1 標準配置....................................................................................................... 3 1.2.2 可選件........................................................................................................... 3 1.3 儀器各部分名稱................................................................................................... 4 1.3.1 儀器各部分名稱 ........................................................................................... 4 1.3.2 屏幕顯示....................................................................................................... 4 1.4 技術參數 .............................................................................................................. 5 1.4.1 測量范圍及測量誤差.................................................................................... 5 1.4.2 使用環境....................................................................................................... 5 1.4.3 電源 .............................................................................................................. 5 1.4.4 外型尺寸和重量 ........................................................................................... 5 2 儀器的使用......................................................................................................................... 6 2.1 基本測量步驟....................................................................................................... 6 2.2 各項功能及操作方法........................................................................................... 7 2.2.1 測量方式（單次測量⇔連續測量）............................................................. 7 2.2.2 工作方式（直接方式⇔成組方式）............................................................. 7 2.2.3 統計計算....................................................................................................... 8 2.2.4 存貯 .............................................................................................................. 9 2.2.5 刪除 .............................................................................................................. 9 2.2.6 設置限界....................................................................................................... 9 2.2.7 打印 ............................................................................................................ 10 2.2.8 與 PC 機通訊 .............................................................................................. 11 2.2.9 單位制式轉換（公制<=>英制）................................................................ 11 2.2.10 操作一覽表................................................................................................. 12 2.2.11 關于測量和誤差的說明.............................................................................. 12 3 儀器的校準....................................................................................................................... 13 3.1 校準標準片（包括箔和基體）.......................................................................... 13 3.2 基體.................................................................................................................... 13 3.3 校準方法 ............................................................................................................ 13 3.3.1 零點校準..................................................................................................... 13 3.3.2 二點校準..................................................................................................... 14 3.3.3 修改組 FX 中的校準值............................................................................... 15 3.4 基本校準的修正................................................................................................. 15 4 影響測量精度的因素........................................................................................................ 16 4.1 影響因素相關表................................................................................................. 16 4.2 影響因素的有關說明......................................................................................... 16 4.3 使用儀器時應當遵守的規定.............................................................................. 17 5 保養與維修....................................................................................................................... 18 概述 第 2 頁 共 17 頁 1 概述 本儀器是一種手持式測量儀，它能快速、無損傷、精密地測量非磁性金屬基體上非導 電覆蓋層的厚度�？蓮V泛用于在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。本儀器 是材料保護專業必備的儀器。 本儀器符合以下標準： GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 818─93 電渦流式測厚儀 特點： 􀁺 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）； 􀁺 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL)； 􀁺 設有五個統計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次 數（NO．）、標準偏差（S．DEV）； 􀁺 可進行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正； 􀁺 具有存貯功能：可存貯 350 個測量值； 􀁺 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所 有數據，以便進行新的測量； 􀁺 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警； 􀁺 具有打�。嚎纱蛴�測量值、統計值； 􀁺 具有與 PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至 PC 機，以便對數據進行 進一步處理； 􀁺 具有電源欠壓指示功能； 􀁺 操作過程有蜂鳴聲提示； 􀁺 具有錯誤提示功能； 􀁺 具有自動關機功能。 1.1 測量原理 本儀器采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度(如 銅、鋁、鋅、錫等基體上的:琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等)。 基本工作原理是: 利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸 時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量電渦流的大小可 導出覆蓋層的厚度。 概述 第 3 頁 共 17 頁 圖 1-1 基本工作原理 1.2 標準配置及可選件 1.2.1 標準配置 表 1-1 標準配置清單 名 稱 數 量 TT240 主機 (帶 N1 測頭) 1 臺 標準片 5 片 鋁基體 1 塊 AA 型堿性電池 2 節 產品包裝箱 1 個 使用說明書 1 本 1.2.2 可選件 表 1-2 可選件清單 名 稱 數 量 TA220S 打印機 1 臺 通訊電纜 1 條 通訊軟件 1 個 橡膠護套 1 個 概述 第 4 頁 共 17 頁 1.3 儀器各部分名稱 1.3.1 儀器各部分名稱 ON TT240 1.3.2 屏幕顯示 圖 1-3a 全屏幕液晶顯示 圖 1-3b 顯示功能分區示意圖 1. 低電壓指標 2.N 型測頭 3.測量單位 4.工作方式指示 5. 打印指示 6.設限界指示 7.統計量指示 8.數據區 液晶顯示屏 鍵盤 串行通訊電纜插座 測頭 電池倉 背簽 圖 1-2 儀器各部分名稱 主機 概述 第 5 頁 共 17 頁 1.4 技術參數 1.4.1 測量范圍及測量誤差 表 1-3 測量范圍及測量誤差 示值誤差（µm） 型號 工作原理 測量范圍 （µm） 低限分辨力 （µm） 零點校準 二點校準 TT240 電渦流 0~1250 0.1 ±（3%H+1.5） ±[（1%~3%）H+1.5] 型號 待測基體最小曲率半徑 （mm） 基體最小面積的直徑 （mm） 基體臨界厚度 （mm） TT240 凸 3 ∅5 0.3 注：H—標稱值 1.4.2 使用環境 溫度：0~40℃ 濕度：20%～90% 無強磁場環境 1.4.3 電源 二節 AA 型堿性電池 1.4.4 外型尺寸和重量 外型尺寸：152mm×74 mm×35 mm 重量：約 370g 儀器的使用 第 6 頁 共 17 頁 2 儀器的使用 使用本儀器前，請務必仔細閱讀第 3 章(校準)和第 4 章(影響測量精度的因素) 2.1 基本測量步驟 a) 準備好待測試件（參見第 4 章）； b) 將測頭置于開放空間，按一下“ON”鍵，開機； c) 檢查電池電壓；更換電池。 說明：無 BATT 顯示，表示電池電壓正常；BATT 出現，表示電池電壓已低落，應更換 電池； 正常情況下，開機后顯示上次關機前的測量值；如： a) 是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當的校準方法進行（參見第 3 章）； b) 測量 迅速將測頭與測試面垂直地接觸并輕壓測頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測 量值，提起測頭可進行下次測量； c) 關機 在無任何操作的情況下，大約 2~3min 后儀器自動關機。 說明: 1. 如果在測量中測頭放置不穩，顯示一個明顯的可疑值，按 CLEAR 鍵可刪除 該值； 2. 重復測量三次或更多次后，按 STATS 鍵，將依次顯示五個統計量，即：平均 值（MEAN）、標準偏差（S.DEV）、測量次數（NO.）、最大測量值（MAX）、最小 測量值（MIN）。 儀器的使用 第 7 頁 共 17 頁 2.2 各項功能及操作方法 2.2.1 測量方式（單次測量⇔連續測量） 􀁺 單次測量──測頭每接觸被測件 1 次，隨著一聲鳴響，顯示一個測量結果； 􀁺 連續測量──不提起測頭動態測量，測量過程中不伴鳴響，屏幕閃顯測量結果； 􀁺 兩種方式的轉換方法是：開機狀態下，按住 STATS 鍵 3 秒后，屏顯“- - - -” 后 再抬起按鍵，則已轉入新的測量方式。 注意：連續方式不能校準儀器。 2.2.2 工作方式（直接方式⇔成組方式） 􀁺 直接（DIRECT）方式 ── 此方式用于隨意性測量，測量值暫存在內存單元（共 有 100 個存貯單元），當存滿 100 個存貯單元，屏幕閃顯“FULL”，此時測量仍 能繼續進行，但新的測量值不參與統計計算。需要時，可清除內存單元，再進行 新的測量； 􀁺 成組方式（A-B）── 此方式便于用戶分批記錄所測試的數據，一組最多存 99 個數值，總共九組，可存 350 個數值。每組當存滿 99 個數值時，屏幕將顯示 “FFFF” ，此時，仍可進行測量，但是測量值只顯示不存儲，也不參與統計計 算。需要時，可刪除該組數據，再進行新的測量； 每組內設有一個校準值，即該組下各個數據都是基于這個校準值測得的。每 組內可設限界，即可對該組中的測量結果進行超限標識和報警。成組方式下，每 個測量值都自動進入統計程序參與統計計算。因為成組方式下，可以存貯幾套基 于不同校準值的測量數據，因此該方式特別適合于現場測量。 􀁺 兩種方式的轉換方法是： a) 儀器開機后，自動進入直接工作方式，工作方式區顯示“D”。按“FILE”鍵， 儀器進入成組方式，工作方式區顯示“A-B”； 儀器的使用 第 8 頁 共 17 頁 b) 用↑、↓鍵可選擇組號； 說明：1. 前兩位數表示該組中所存測量值的個數，一組最多存 99 個數值； 2. 中間的“.” 表示該組中已有校準值； 3. FX 表示組號，最多 9 組。 c) 在成組方式中，按“↓”鍵，出現“F0”狀態時，通過測量或打印，可轉入 直接方式。 2.2.3 統計計算 本儀器對測量值自動進行統計處理，它需要至少三個測量值來產生 5 個統計值：平均 值（MEAN）、標準偏差（S.DEV）、測試次數（No.）、最大測試值（MAX)、最小測試值（MIN）。 a) 參加統計計算的測量值 ⊙ 在直接方式下所有測量值（包括關機前的測量值）均參加統計計算。 注意：當存滿 100 個存貯單元時，新的測量值將不參與統計計算。需要時，可清除內 存單元，再進行新的測量； ⊙ 在成組方式下，參加統計計算的測量值僅限于本組內的數據。 注意：每組當存滿 99 個數值時，盡管測量能繼續，但不能修改統計值。需要時，可 清除內存單元，再進行新的測量； b) 顯示統計值 ⊙ 在直接方式下，按“STATS”鍵，5 個統計值將依次顯示。 ⊙ 在成組方式下，選擇組號，按“STATS”鍵，該組下的 5 個統計值將依次 顯示。 儀器的使用 第 9 頁 共 17 頁 2.2.4 存貯 成組方式下測量值自動存入內存單元，一組最多存 99 個數值，總共九組，可存 350 個數值。 2.2.5 刪除 ⊙ 刪除當前測量值 無論在直接方式或成組方式下，按一下“CLEAR”鍵，隨著一聲鳴響，當前測 量值已被清除。 ⊙ 刪除直接方式下的所有測量值、統計值 在直接方式下，按二次 “CLEAR” 鍵，可刪除直接方式下的所有數據、統計值。 ⊙ 刪除某組中的所有測量值，統計值 選擇組號，按二次“CLEAR”鍵，屏顯“00.Fx”，則所有測量值，統計值已刪除。 ⊙ 刪除某組中的限界 選擇組號，按“LIMITS”鍵，顯示限界值，再按“CLEAR”鍵，限界值消失。 ⊙ 刪除某組中的校準值 當該組中的測量數據為空時，按“CLEAR”鍵，則“00.Fx”中的“.”消失，校 準值已被刪除。 2.2.6 設置限界 a) 按“LIMITS”鍵，顯示以前設置的下限，然后用↓、↑ 鍵設定新的下限值，再 按“LIMITS”鍵確認。 儀器的使用 第 10 頁 共 17 頁 b) 再按“LIMITS”鍵，顯示以前設置的上限，然后通過↓、↑鍵設定新的上限值， 再按“LIMITS”鍵確認。 提示: 1. 限界僅在成組方式下有效； 2. 限界以外的測試結果由蜂鳴聲報警，同時屏幕閃顯 LIMITS； 3. 限界以外的測試結果與其它測試結果一起被存貯并進行統計計算。 4. 上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為 200μm 以上時，上、下限最小接 近程度為上限的 3%，在上限值為 200μm 以下時，上、下限最小接近程度為 5μm。 2.2.7 打印 只有本公司開發設計的打印機可與本儀器連接，進行打印工作。將打印連線一頭接打 印機，另一頭接本儀器，打開打印機電源。當與 TA220S 打印機配用時，TA220S 的撥碼開 關位置為 1、2、3、6、7 置于 ON，4、5 置于 OFF。 通訊電纜 RS232接口 TT240 ON 圖 2-1 與打印機連接 a) 打印統計值 ————按“PRINT”鍵，出現“PRINT”提示，然后再按“STATS” 鍵，屏顯并打印統計值。每按一打印一個統計值。 儀器的使用 第 11 頁 共 17 頁 b) 單次打印 ———— 按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，并且打印機 準備就緒，單次測量時測一個打一個。 c) 連續打印 ———— 按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，并且打印機準備 就緒， 在“F0”狀態時，再按“PRINT”鍵，則打印直接方式下的所有測 量值及統計值。在“Fx”（x 為 1~9）狀態時，按“PRINT”鍵，則打印成組 方式下的所有測量值、統計值、限界。 2.2.8 與 PC 機通訊 所有測量數據都可傳入 PC 機中，由 PC 機處理。 圖 2-2 與 PC 機通訊 a) 輸入 PC 機統計值————按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，按“STATS” 鍵，屏顯輸入 PC 機統計值。每按一次輸入 PC 機一個統計值。 b) 輸入 PC 機單次測量值————按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，并且 PC 機準備就緒，單次測量時測一個輸入一個。 c) 輸入 PC 機連續測量值————按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，并且 PC 機準備就緒，連續測量的所有測量值都輸入到 PC 機中。 d) 輸入 PC 機所有值————按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示，并且 PC 機 準備就緒， 在“F0”狀態時，再按“PRINT”鍵，則輸入直接方式下的所有 測量值及統計值。在“Fx”（x 為 1~9）狀態時，按“PRINT”鍵，則輸入成 組方式下的所有測量值，統計值，限界。 2.2.9 單位制式轉換（公制<=>英制） 在儀器關閉狀態下，按住 ZERO 鍵，再按 ON 鍵，直到一聲鳴響，即已轉入到新的制 式。 PC機 ON TT240 儀器的使用 第 12 頁 共 17 頁 2.2.10 操作一覽表 表 3-1 操作一覽表 鍵 名 功 能 備 注 ZERO 零點校準 3.3.1 STATS 顯示五個統計值、連續測量 <＝> 單次測量 2.2.1、2.2.3、2.2.7 a) FILE 進入成組方式 2.2.2 LIMIT 設置限界 2.2.6 CLEAR 刪除測試值、統計值、限界 2.2.5 ↑、↓ 數字調節 2.2.2、2.2.6、3.3.2.1、3.3.2.2 PRINT 打印輸出所有測量值、統計值 2.2.7、2.2.8 ON 開機 2.1 ZERO+ON 公制<=>英制 2.2.9 ↑+↓+ON 用于改變基本校準 3.4 *備注欄內給出的標號為本使用說明書中講解本功能的標號。 2.2.11 關于測量和誤差的說明 ⊙ 如果已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內； ⊙ 根據統計學的觀點，一次讀數是不可靠的。因此任何由 TT240 顯示的測量值都 是五次"看不見"的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時間內由測頭 和儀器完成的； ⊙ 為使測量更加精確，可利用統計程序在一個點多次測量，粗大誤差用 CLEAR 刪 除，最后涂層的厚度為： CH=M+S+δ 其中: CH：涂層厚度 M：多次測量的平均值 S：標準方差 δ：儀器允許誤差 儀器的校準 第 13 頁 共 17 頁 3 儀器的校準 為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。 3.1 校準標準片（包括箔和基體） 已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。 a) 校準箔 對本儀器，“箔”是塑料箔�！安�”有利于曲面上的校準。 b) 有覆蓋層的標準片 c) 采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀器， 覆蓋層是非導電的。 3.2 基體 a) 對于本儀器，基體金屬的電性質，應當與待測試件基體金屬的電性質相似。 為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得 的讀數進行比較。 b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規定的臨界厚度，可采用下面兩 種方法進行校準： 1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準； 2) 用一足夠厚度的，電學性質相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基 體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。 c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或 置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。 3.3 校準方法 本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準、在噴沙表面上校準。二點 校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非 常簡單的。 3.3.1 零點校準 a) 在基體上進行一次測量，屏幕顯示＜×.×µm＞。 儀器的校準 第 14 頁 共 17 頁 b) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準已完成，可以開始測量了。 c) 要準確地校準零點，須重復上述 a、b 以獲得基體測量值小于 1µm，這樣有利于提 高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。 3.3.2 二點校準 3.3.2.1 一試片法 這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。 a) 先校零點（如上述）。 b) 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜× ××µm＞。 c) 用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量了。 注意: 即使顯示結果與標準片值相符，按↑、↓鍵也是必不可少的，例如按一次↑一次↓。 這一點適用于所有校準方法。 如欲較準確地進行二點校準，可重復 b、c 過程，以提高校準的精度，減少偶然誤 差。 3.3.2.2 二試片法 兩個標準片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應該在兩個校準值之間。這種方 法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。 a) 先校零值。 b) 在較薄的標準片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。 c) 緊接著在厚的一個樣片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準 值。校準已完成，可以開始測量了。 3.3.2.3 在噴沙表面上校準 噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面 的方法確定 方法一： a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。 b) 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量 10 次左右，得到平均值 Mo。 c) 然后，在已涂覆的表面上測量 10 次得到平均值 Mm。 d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。 其中 S（標準偏差）是 SMm 和 SMo 中較大的一個。 儀器的校準 第 15 頁 共 17 頁 方法二： a) 用直接方式下的單次測量法測量。 b) 先用兩試片法校準儀器。 c) 在試樣上測量 5～10 次。按 STATS 鍵，統計值中的平均值即是覆層厚度。 注意: 1. 出現下列情況，必需重新校準。 ____校準時，輸入了一個錯誤值； ____操作錯誤； 2. 在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著做一次測量，隨后再做一 次校準，即可獲取新值消除錯誤值； 3．當覆蓋層厚度大于 300μm 時，多數情況下，其表面粗糙度非常小，對測量值影 響不大，用通常的校準方法即可。 3.3.3 修改組 FX 中的校準值 刪除組單元中的所有數據和校準值之后才能重新校準。否則將出現鈴聲報警。更換測 頭后，必須用此方法。 3.4 基本校準的修正 在下述情況下，改變基本校準是有必要的: ____測頭頂端被磨損。 ____新換的測頭。 ____特殊的用途。 在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進行校準稱為基本 校準。通過輸入 6 個校準值(1 個零和 5 個厚度值)，可重新校準測頭。 a) 在儀器關閉的狀態下按住↑和↓鍵再按 ON 鍵，直到一聲鳴響，即進基本校準方式； b) 先校零值�？蛇B續重復進行多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣做可以提 高校準的準確性； c) 使用標準片，按厚度增加的順序，做 2～5 次校準。一個厚度上做一次。每個厚 度應至少是上一個厚度的 1.6 倍以上。理想的情況是 2 倍。例如: 50、100、200、 400、800μm。最大值應該接近但低于測頭的最大測量范圍； d) 在輸入 6 個校準值以后，測量一下零點，儀器自動關閉，新的校準值已存入儀器。 當再次開機時，儀器將按新的校準值工作。 影響測量精度的因素 第 16 頁 共 17 頁 4 影響測量精度的因素 4.1 影響因素相關表 表 4-1 影響因素相關表 影響因素 有關說明 基體金屬電性質 4.2.1 基體金屬厚度 4.2.2 邊緣效應 4.2.3 曲率 4.2.4 試樣的變形 4.2.5 表面粗糙度 4.2.6 附著物質 4.2.7 測頭壓力 4.2.8 測頭取向 4.2.9 4.2 影響因素的有關說明 a) 金屬電性質 基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方 法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。 b) 基體金屬厚度 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬 厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見表 1-3。 c) 邊緣效應 本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是 不可靠的。 d) 曲率 試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此， 在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。 e) 試件的變形 測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。 f) 表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗 糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數， 以克服這種偶然誤差。 如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位 影響測量精度的因素 第 17 頁 共 17 頁 置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器 的零點。 g) 附著物質 本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除 附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。 h) 測頭壓力 測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。 i) 測頭的取向 測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。 4.3 使用儀器時應當遵守的規定 a) 基體金屬特性 對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 b) 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用 3.2 2)中的兩種方法的 一種進行校準。 c) 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 d) 曲率 不應在試件的彎曲表面上測量。 e) 讀數次數 通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。 覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應 如此。 f) 表面清潔度 測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除 去任何覆蓋層物質 5 保養與維修 ⊙嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場、油污等。 ⊙故障排除 下面的錯誤信息表告訴您如何去識別和排除故障： 表 5-1 錯誤信息表 錯誤代號 錯誤代號的含意 原因及解決辦法 E02 測頭磨損 更換測頭 E03 測頭或儀器損壞 修理測頭或儀器 E04 測量值發生大的波動(例如在軟覆蓋層 上測量時) 在軟質覆蓋層上測量時，應采用輔 助裝置進行測量 E05 開機時測頭離金屬基體太近 測頭遠離金屬基體 E07 零值偏差太大，不能校零 選擇合適的基體或修理儀器 E08 測頭或儀器損壞 修理測頭或儀器 如果未顯示錯誤代碼而工作不正常，例如： a) 儀器不能自動關機； b) 不能測量； c) 鍵不工作； d) 測量值反復無常。 出現這類故障時， 當用戶通過上述方法仍不能排除故障時，請用戶不要拆機自修。填妥保 修卡后，請將儀器交我公司維修部門，執行保修條例。如果能將出現錯誤的情況簡單描述 一下，一同寄出，我們將會非常感謝您。 　 點擊下載 【關閉】

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