| 涂鍍層測厚儀MiniTest1100德國EPK(Elektrophysik)公司 德國EPK(Elektrophysik)公司
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。 德國EPK(Elektrophysik)公司 涂鍍層測厚儀MiniTest1100技術特征
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | | MINITEST 存儲的數據量 | | 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 1 | 1 | 10 | 99 | | 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值) | | 1 | 10 | 99 | | 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | | 1 | 500 | 500 | | 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | | MINITEST統計計算功能 | | 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ | | 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | | 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ | | 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | | 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | | | | √ | | 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | | | √ | √ | | 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | | √ | √ | √ | | 其他功能 | | 設置極限值 | | | √ | √ | | 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 | | | √ | √ | | 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | | | √ | √ | | 連續測量模式中顯示最小值 | | | √ | √ |
德國EPK(Elektrophysik)公司 涂鍍層測厚儀MiniTest1100可選探頭參數:
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端
分辨率 | 誤差 | 最小曲率半徑
(凸/凹) | 最小測量
區域直徑 | 最小基
體厚度 | 探頭尺寸 | 磁
感
應
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | 兩
用
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | 電
渦
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
